文献
J-GLOBAL ID:200902161347127758
整理番号:96A0624871
深いサブミクロンライン中のPtSi膜の電気的,構造的特性
Electrical and structural properties of PtSi films in deep submicron lines.
著者 (5件):
XU D-X
(National Res. Council, Ontario, CAN)
,
MCCAFFREY J P
(National Res. Council, Ontario, CAN)
,
DAS S R
(National Res. Council, Ontario, CAN)
,
AERS G C
(National Res. Council, Ontario, CAN)
,
ERICKSON L E
(National Res. Council, Ontario, CAN)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
68
号:
25
ページ:
3588-3590
発行年:
1996年06月17日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)