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J-GLOBAL ID：200902161546218258 整理番号：00A0276284

コールドスプレイイオン化質量分析法による自己集合性ナノサイズ構造のキャラクタリゼーション

Characterization of Self-Assembling Nano-Sized Structures by Means of Coldspray Ionization Mass Spectrometry.

著者 (4件)：

SAKAMOTO S

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

FUJITA M

(Nagoya Univ., Nagoya, JPN)

KIM K

(Pohang Univ. Sci. and Technol., Pohang, KOR)

YAMAGUCHI K

(Chiba Univ., Chiba, JPN)

資料名：

Tetrahedron (Tetrahedron)

巻： 56 号： 7 ページ： 955-964 発行年： 2000年02月11日
JST資料番号： E0234A ISSN： 0040-4020 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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