文献
J-GLOBAL ID:200902161604555278
整理番号:94A0023298
Locally resolved X-ray investigations by means of X-ray optics.
著者 (3件):
KRUTZENBICHLER A
(Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU)
,
KEIMEL J
(Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU)
,
FRITSCH G
(Federal Armed Forces Univ., Neubiberg, DEU)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
133/136
号:
Pt 1
ページ:
243-248
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)