文献
J-GLOBAL ID:200902161976982326
整理番号:94A0113694
High resolution STEM Z-contrast imaging and XRD: two new approaches for the characterization of GaInP/GaAs heterostructures.
著者 (7件):
LAKNER H
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
BOLLIG B
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
VOLMICH P
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
LIU Q
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
SCHEFFER F
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
LINDNER A
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
,
PROST W
(Univ. Duisburg, Duisburg, DEU)
資料名:
Institute of Physics Conference Series
(Institute of Physics Conference Series)
号:
134
ページ:
497-502
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0403B
ISSN:
0305-2346
CODEN:
IPHSAC
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)