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文献
J-GLOBAL ID：200902162054605732
整理番号：93A0583243
高分解能X線回折による埋込みInGaAs歪多重量子井戸の層構造の決定
Determination of the layer structure of embedded strained InGaAs multiple quantum wells by high resolution x-ray diffraction.
CHOI W-Y
(Massachusetts Inst. Technology, Massachusetts)
,
FONSTAD C G
(Massachusetts Inst. Technology, Massachusetts)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 62 号： 22 ページ： 2815-2817 発行年： 1993年05月31日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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