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文献
J-GLOBAL ID：200902162145008796
整理番号：94A0074714
Biased voting: A method for simulating CMOS bridging faults in the presence of variable gate logic thresholds.
MAXWELL P C
(Hewlett-Packard Co., CA)
,
AITKEN R C
(Hewlett-Packard Co., CA)
資料名：
Proceedings. International Test Conference
(Proceedings. International Test Conference)
巻： 1993 ページ： 63-72 発行年： 1993年
JST資料番号： E0211B ISSN： 1089-3539 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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