文献
J-GLOBAL ID:200902162154772172
整理番号:93A0665546
バウンダリスキャンマスタを用いた基板レベルBISTへの構造的アプローチ
A structured approach to board-level BIST using the boundary-scan master.
著者 (2件):
JARWALA N
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
,
YAU C W
(AT&T Bell Lab., NJ, USA)
資料名:
Microprocessors and Microsystems
(Microprocessors and Microsystems)
巻:
17
号:
5
ページ:
289-297
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
H0781A
ISSN:
0141-9331
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)