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文献
J-GLOBAL ID：200902162202150375
整理番号：93A0716323
Incremental Event-Driven Simulation of Digital FET Circuits.
VISWESWARIAH C
(IBM T.J. Watson Research Center, NY)
,
WEHBEH J A
(Univ. Illinois at Urbana Champaign, IL)
資料名：
Proceedings of the Design Automation Conference
(Proceedings of the Design Automation Conference)
巻： 30th ページ： 737-741 発行年： 1993年
JST資料番号： D0553A ISSN： 0738-100X 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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