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文献
J-GLOBAL ID:200902162266716828   整理番号:93A0959158

レジスタ転送レベル制御データパス仕様のテスタビリティに関する変換と再合成

Transformations and Resynthesis for Testability of RT-Level Control-Data Path Specifications.
著者 (3件):
BHATTACHARYA S
(Duke Univ., NC)
BRGLEZ F
(MCNC, NC)
DEY S
(NEC USA, NJ)

資料名:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems  (IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems)

巻:号:ページ: 304-318  発行年: 1993年09月 
JST資料番号: W0516A  ISSN: 1063-8210  CODEN: ITCOB4  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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