文献
J-GLOBAL ID:200902163804927466
整理番号:94A0145907
表面および薄膜分析のための無機質量分析
Inorganic mass spectrometry for surface and thin film analysis.
著者 (1件):
OECHSNER H
(Univ. Kaiserslautern, Kaiserslautern, DEU)
資料名:
Analytica Chimica Acta
(Analytica Chimica Acta)
巻:
283
号:
1
ページ:
131-138
発行年:
1993年11月15日
JST資料番号:
A0394A
ISSN:
0003-2670
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
文献レビュー
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)