文献
J-GLOBAL ID:200902164042638948
整理番号:94A0032507
ペルフルオロ化イオノマ/ジメチルグリオキシム水銀膜電極における痕跡量ニッケルの定量
Determination of Traces of Nickel(II) at a Perfluorinated Ionomer/Dimethylglyoxime Mercury Film Electrode.
著者 (2件):
ZEN J-M
(National Chung-Hsing Univ., Taichung, TWN)
,
LEE M-L
(National Chung-Hsing Univ., Taichung, TWN)
資料名:
Analytical Chemistry
(Analytical Chemistry)
巻:
65
号:
22
ページ:
3238-3243
発行年:
1993年11月15日
JST資料番号:
A0395A
ISSN:
0003-2700
CODEN:
ANCHAM
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)