文献
J-GLOBAL ID:200902164074247339
整理番号:94A0539685
超伝導薄膜の反磁性応答測定用の相互インダクタンスブリッジ
Mutual-inductance bridge for measuring the diamagnetic response of thin-film superconductors.
著者 (4件):
GRISHIN A M
(Donets Physicotechnical Inst.)
,
DROBOT’KO V F
(Donets Physicotechnical Inst.)
,
STASOVSKII V D
(Donets Physicotechnical Inst.)
,
KHOKHLOV V A
(Donets Physicotechnical Inst.)
資料名:
Technical Physics
(Technical Physics)
巻:
38
号:
8
ページ:
730-732
発行年:
1993年08月
JST資料番号:
E0952A
ISSN:
1063-7842
CODEN:
TEPHEX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)