文献
J-GLOBAL ID:200902164524931642
整理番号:94A0080005
シンクロトロン放射源に設置した3軸結晶回折計により測定したBragg強度プロフィルの半値幅 I YIG及びSi単結晶の半値幅
The Half-Widths of Bragg Intensity Profiles Measured with a Triple-Crystal Diffractometer at a Synchrotron-Radiation Source. II. The Half-Widths of YIG and Si Single Crystals.
著者 (5件):
ROSSMANITH E
(Univ. Hamburg, Hamburg, DEU)
,
WERNER M
(Univ. Hamburg, Hamburg, DEU)
,
KUMPAT G
(Univ. Hamburg, Hamburg, DEU)
,
ULRICH G
(Univ. Hamburg, Hamburg, DEU)
,
EICHHORN K
(Univ. Karlsruhe, Karlsruhe, DEU)
資料名:
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻:
26
号:
6
ページ:
756-762
発行年:
1993年12月01日
JST資料番号:
D0631A
ISSN:
0021-8898
CODEN:
JACGAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)