文献
J-GLOBAL ID:200902164841027188
整理番号:01A0973113
高周波電流の重畳下における半導体レーザーの帰還誘起雑音の特性化
Characterization of the Feedback Induced Noise in Semiconductor Laser under Superposition of High Frequency Current.
著者 (3件):
YAMADA M
(Kanazawa Univ., Kanazawa-shi, JPN)
,
YAMAMURA S
(Kanazawa Univ., Kanazawa-shi, JPN)
,
OKAMOTO T
(Kanazawa Univ., Kanazawa-shi, JPN)
資料名:
IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers)
(IEICE Transactions on Electronics (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻:
E84-C
号:
10
ページ:
1588-1596
発行年:
2001年10月01日
JST資料番号:
L1370A
ISSN:
0916-8524
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)