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文献
J-GLOBAL ID：200902164843844299
整理番号：94A0116460
Surface and interface characterization of high Tc related epitaxial films by STM/STS and XPS.
KOINUMA H
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama, JPN)
,
GONDA S
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama, JPN)
,
GONG J P
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama, JPN)
,
KAWASAKI M
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama, JPN)
,
YOSHIMOTO M
(Tokyo Inst. Technology, Yokohama, JPN)
,
NANTOH M
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
HASEGAWA T
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
,
KITAZAWA K
(Univ. Tokyo, Tokyo, JPN)
資料名：
Journal of Physics and Chemistry of Solids
(Journal of Physics and Chemistry of Solids)
巻： 54 号： 10 ページ： 1215-1218 発行年： 1993年10月
JST資料番号： C0202A ISSN： 0022-3697 資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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