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文献
J-GLOBAL ID：200902164904789539
整理番号：94A0726781
Rapid evaluation of thin film interfacial reactions using temperature-ramped measurements.
HARPER J M E
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY)
,
CLEVENGER L A
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY)
,
COLGAN E G
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY)
,
CABRAL C JR
(IBM Thomas J. Watson Research Center, NY)
,
ARCOT B
(Rensselaer Polytechnic Inst., NY)
資料名：
Interface Control of Electrical, Chemical, and Mechanical Properties
(Interface Control of Electrical, Chemical, and Mechanical Properties)
ページ： 307-318 発行年： 1994年
JST資料番号： K19940585 ISBN： 1-55899-217-0 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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