文献
J-GLOBAL ID:200902165038349156
整理番号:98A0991196
バルクの縦型Bridgman及び液体封入Czochralski成長GaAs中の個々の微小欠陥とそろった微小欠陥の同定
Identification of individual and aligned microdefects in bulk vertical Bridgman- and liquid encapsulated Czochralski-grown GaAs.
著者 (4件):
WEYHER J L
(Res. Centre Juelich(IFF-KFA), Juelich, DEU)
,
SCHOBER T
(Res. Centre Juelich(IFF-KFA), Juelich, DEU)
,
SONNENBERG K
(Res. Centre Juelich(IFF-KFA), Juelich, DEU)
,
FRANZOSI P
(MASPEC-CNR Inst., Parma, ITA)
資料名:
Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology
(Materials Science & Engineering. B. Solid-State Materials for Advanced Technology)
巻:
B55
号:
1/2
ページ:
79-85
発行年:
1998年08月14日
JST資料番号:
T0553A
ISSN:
0921-5107
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)