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文献
J-GLOBAL ID：200902165072209010
整理番号：00A0001743
ホロトモグラフィー シンクロトロン放射硬X線を用いたマイクロメータ分解能の定量的位相トモグラフィー
Holotomography: Quantitative phase tomography with micrometer resolution using hard synchrotron radiation x rays.
CLOETENS P
(European Synchrotron Radiation Facility(ESRF), Grenoble, FRA)
,
LUDWIG W
(European Synchrotron Radiation Facility(ESRF), Grenoble, FRA)
,
BARUCHEL J
(European Synchrotron Radiation Facility(ESRF), Grenoble, FRA)
,
VAN DYCK D
(Univ. Antwerp (RUCA), Antwerp, BEL)
,
VAN LANDUYT J
(Univ. Antwerp (RUCA), Antwerp, BEL)
,
GUIGAY J P
(Lab. Louis Neel du CNRS, Grenoble, FRA)
,
SCHLENKER M
(Lab. Louis Neel du CNRS, Grenoble, FRA)
資料名：
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻： 75 号： 19 ページ： 2912-2914 発行年： 1999年11月08日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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