文献
J-GLOBAL ID:200902165147215640
整理番号:93A0400904
X線回折を用いたHMXの相の熱分析
Thermal analysis of the phases of HMX using X-ray diffraction.
著者 (3件):
HERRMANN M
(Fraunhofer-Inst. Chemische Technologie, Pfinztal-Berghausen, DEU)
,
ENGEL W
(Fraunhofer-Inst. Chemische Technologie, Pfinztal-Berghausen, DEU)
,
EISENREICH N
(Fraunhofer-Inst. Chemische Technologie, Pfinztal-Berghausen, DEU)
資料名:
Zeitschrift fuer Kristallographie
(Zeitschrift fuer Kristallographie)
巻:
204
号:
1
ページ:
121-128
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0436A
ISSN:
2194-4946
CODEN:
ZEKGA
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
ドイツ (DEU)
言語:
英語 (EN)