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文献
J-GLOBAL ID：200902165148493414
整理番号：93A0405174
An example of the “upstream approach” methodology: An investigation of open-contact failures in ASIC devices.
LE T T
(SGS-Thomson Microelectronics, Texas)
,
MITCHELL R R
(SGS-Thomson Microelectronics, Texas)
,
LEE J J
(SGS-Thomson Microelectronics, Texas)
,
CHEN C E
(SGS-Thomson Microelectronics, Texas)
,
HOANG H H
(SGS-Thomson Microelectronics, Texas)
資料名：
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻： 1802 ページ： 104-108 発行年： 1993年
JST資料番号： D0943A ISSN： 0277-786X CODEN： PSISDG 資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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