文献
J-GLOBAL ID:200902165351721457
整理番号:93A0957189
導波路屈折計によるPb(Zr,Ti)O3薄膜の電気光学的特性評価
Electro-optical characterization of Pb(Zr,Ti)O3 thin films by waveguide refractometry.
著者 (3件):
POTTER B G JR
(Sandia National Lab., New Mexico)
,
SINCLAIR M B
(Sandia National Lab., New Mexico)
,
DIMOS D
(Sandia National Lab., New Mexico)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
63
号:
16
ページ:
2180-2182
発行年:
1993年10月18日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)