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文献
J-GLOBAL ID：200902165564667480
整理番号：93A0657931
GaAs量子細線におけるキャリア寿命の測定 細線幅依存性
Measurement of Carrier Lifetime in GaAs Quantum Wires. Wire Width Dependence.
河野隆司
(東大 生産技研)
,
十川文博
(東大 生産技研)
,
塚本史郎
(東大 生産技研)
,
永宗靖
(東大)
,
西岡政雄
(東大 生産技研)
,
荒川泰彦
(東大 生産技研)
資料名：
応用物理学関係連合講演会講演予稿集
(Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 40th 号： Pt 3 ページ： 1192 発行年： 1993年03月
JST資料番号： Y0054A 資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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