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文献
J-GLOBAL ID：200902165673273700
整理番号：00A0899228
走査型電子刺激脱離イオン顕微鏡による二次元水素化学状態分析
Two-dimensional hydrogen chemical-state analysis by a scanning electron-stimulated desorption ion microscope.
UEDA K
(Toyota Technological Inst., Nagoya, JPN)
,
OGAI K
(Toyota Technological Inst., Nagoya, JPN)
資料名：
Surface Science
(Surface Science)
巻： 462 号： 1/3 ページ： 1-5 発行年： 2000年08月10日
JST資料番号： C0129B ISSN： 0039-6028 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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