文献
J-GLOBAL ID:200902165859146369
整理番号:93A0778983
Automatic Test Pattern Generation can be Solved as a Constraint Satisfaction Problem.
著者 (3件):
TILLY K
(Technical Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
SURJAN L
(Technical Univ. Budapest, Budapest, HUN)
,
ROMAN G
(Technical Univ. Budapest, Budapest, HUN)
資料名:
Microprocessing and Microprogramming
(Microprocessing and Microprogramming)
巻:
38
号:
1/5
ページ:
715-722
発行年:
1993年09月
JST資料番号:
A0883A
ISSN:
0165-6074
CODEN:
MMICDT
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)