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文献
J-GLOBAL ID：200902165940323470
整理番号：94A0725587
走査近視野光学顕微鏡法と走査熱顕微鏡法
Scanning Near-Field Optical Microscopy and Scanning Thermal Microscopy.
PYLKKI R J
(TopoMetrix Corp., CA, USA)
,
MOYER P J
(TopoMetrix Corp., CA, USA)
,
WEST P E
(TopoMetrix Corp., CA, USA)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 33 号： 6B ページ： 3785-3790 発行年： 1994年06月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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