文献
J-GLOBAL ID:200902166014184470
整理番号:93A0775674
Determination of the chemical valence of atoms at a heterophase interface by x-ray diffraction measurements of crystal truncation rod intensity at an atomic absorption edge.
著者 (2件):
SPECHT E D
(Oak Ridge National Lab., TN, USA)
,
WALKER F J
(Oak Ridge National Lab., TN, USA)
資料名:
Materials Science Forum
(Materials Science Forum)
巻:
126/128
ページ:
575-578
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0716B
ISSN:
0255-5476
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
スイス (CHE)
言語:
英語 (EN)