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文献
J-GLOBAL ID：200902166086796438
整理番号：97A0337744
IDDQテストのための順序回路のブリッジ故障に対するテスト生成
Test Generation for Bridging Faults in Sequential Circuits under IDDQ Testing.
前田敏行
(大阪大 大学院)
,
樋上喜信
(大阪大 大学院)
,
樹下行三
(大阪大 大学院)
資料名：
電子情報通信学会技術研究報告
(IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 96 号： 519(FTS96 58-75) ページ： 105-112 発行年： 1997年02月13日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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