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文献
J-GLOBAL ID：200902166215760070
整理番号：93A0580283
半導体中の非接触のバルク寿命測定のための光-熱レートウインドウ分光法
Photothermal rate-window spectrometry for noncontact bulk lifetime measurements in semiconductors.
CHEN Z H
(Univ. Toronto, Ontario, CAN)
,
BLEISS R
(Univ. Toronto, Ontario, CAN)
,
MANDELIS A
(Univ. Toronto, Ontario, CAN)
,
BUCZKOWSKI A
(North Carolina State Univ., North Carolina)
,
SHIMURA F
(North Carolina State Univ., North Carolina)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 73 号： 10 Pt 1 ページ： 5043-5048 発行年： 1993年05月15日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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