文献
J-GLOBAL ID:200902166393557653
整理番号:93A0582917
Interpretation of Current Induced Noise for Detection of ULSI/VLSI Interconnection Reliability Problems.
著者 (1件):
COTTLE J G
(Univ. South Florida, Florida)
資料名:
Proceedings of SPIE
(Proceedings of SPIE)
巻:
1805
ページ:
284-294
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0943A
ISSN:
0277-786X
CODEN:
PSISDG
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)