文献
J-GLOBAL ID:200902166591617467
整理番号:93A0606436
Optimized Hough Transform Applied to EBS Patterns.
著者 (3件):
DORKEL S
(UGINE SAVOIE, Ugine, FRA)
,
SCHUSTER D
(KONTRON Elektronik GmbH, Muenchen, DEU)
,
BLANC G
(UGINE SAVOIE, Ugine, FRA)
資料名:
Journal of Computer-Assisted Microscopy
(Journal of Computer-Assisted Microscopy)
巻:
5
号:
2
ページ:
151-157
発行年:
1993年06月
JST資料番号:
W0119A
ISSN:
1040-7286
CODEN:
JCMIEX
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)