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文献
J-GLOBAL ID：200902166707314963
整理番号：96A0867344
UX3(X=Al,Si,Ga,Ge,In,Sn)の高圧X線回折研究
High pressure x-ray diffraction studies of UX3 (X=Al, Si, Ga, Ge, In, Sn).
LE BIHAN T
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
,
HEATHMAN S
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
,
DARRACQ S
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
,
ABRAHAM C
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
,
WINAND J-M
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
,
BENEDICT U
(Joint Res. Centre, European Commission, Karlsruhe, DEU)
資料名：
High Temperatures-High Pressures
(High Temperatures-High Pressures)
巻： 27/28 号： 2 ページ： 157-162 発行年： 1995年
JST資料番号： E0486A ISSN： 0018-1544 CODEN： HTHPAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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