文献
J-GLOBAL ID:200902166849514706
整理番号:93A0564976
Characterization of materials using surface and thin-film analysis techniques.
著者 (1件):
FITZGERALD A G
(Univ. Dundee, Dundee, GBR)
資料名:
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻:
170
号:
2
ページ:
97-110
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
B0454B
ISSN:
0022-2720
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)