文献
J-GLOBAL ID:200902167190858026
整理番号:93A0632441
テスト容易なPLAに対する再構築と論理の最小化
Restructuring and Logic Minimization for Testable PLA.
著者 (2件):
HWANG G H
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
,
SHEN W Z
(National Chiao Tung Univ., Hsinchu, TWN)
資料名:
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
(IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems)
巻:
12
号:
4
ページ:
488-496
発行年:
1993年04月
JST資料番号:
B0142C
ISSN:
0278-0070
CODEN:
ITCSDI
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)