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文献
J-GLOBAL ID：200902167197939706
整理番号：94A0018258
VLSIの静電放電損傷防護回路の双方向ラッチアップトリガー挙動
The Behavior of Bilateral Latch-Up Triggering in VLSI Electro Static Discharge Damage Protection Circuits.
HUANG H-S
(United Microelectronics Corp., Hsin-Chu, TWN)
,
CHANG C-Y
(United Microelectronics Corp., Hsin-Chu, TWN)
,
HSU C-C
(United Microelectronics Corp., Hsin-Chu, TWN)
,
CHEN K-L
(National Chiao-Tung Univ., Hsin-Chu, TWN)
,
LIN J-K
(National Chiao-Tung Univ., Hsin-Chu, TWN)
資料名：
Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers
(Japanese Journal of Applied Physics. Part 1. Regular Papers, Short Notes & Review Papers)
巻： 32 号： 11A ページ： 4928-4933 発行年： 1993年11月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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