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文献
J-GLOBAL ID:200902167242949408   整理番号:95A0605170

単一Vcc高密度フラッシュメモリに対する無接触アレイにおける2重ビット分割ゲートEEPROM(DSG)セル

A Dual-bit Split-Gate EEPROM(DSG) Cell in Contactless Array for Single-Vcc High Density Flash Memories.
著者 (9件):
MA Y
(Bright Microelectronics Inc., CA, USA)
PANG C S
(Bright Microelectronics Inc., CA, USA)
CHANG K T
(Bright Microelectronics Inc., CA, USA)
TSAO S C
(Bright Microelectronics Inc., CA, USA)
FRAYER J E
(Bright Microelectronics Inc., CA, USA)
KIM T
(Hyundai Electronics Industries Co. Ltd., Ichon-Kun, KOR)
JO K
(Hyundai Electronics Industries Co. Ltd., Ichon-Kun, KOR)
KIM J
(Hyundai Electronics Industries Co. Ltd., Ichon-Kun, KOR)
PARK H
(Hyundai Electronics Industries Co. Ltd., Ichon-Kun, KOR)

資料名:
Technical Digest. International Electron Devices Meeting  (Technical Digest. International Electron Devices Meeting)

巻: 1994  ページ: 57-60  発行年: 1994年 
JST資料番号: C0829B  ISSN: 0163-1918  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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