文献
J-GLOBAL ID:200902167381673670
整理番号:93A0510487
核マイクロプローブで調べたDRAM中のソフトエラー免疫性
Soft error immunity in a DRAM investigated by nuclear microprobes.
著者 (5件):
TAKAI M
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
SAYAMA H
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
KIMURA H
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
OHNO Y
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
,
SATOH S
(Mitsubishi Electric Corp., Hyogo, JPN)
資料名:
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms
(Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻:
77
号:
1/4
ページ:
344-348
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
H0899A
ISSN:
0168-583X
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)