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文献
J-GLOBAL ID：200902168129422327
整理番号：98A0639523
部分2重化とIDDQテストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
Random Pattern Testable Design with Partial Circuit Duplication and IDDQ Testing.
横山洋之
(秋田大 鉱山)
,
WEN X
(Syn Test Technologies Inc., CA, USA)
,
玉本英夫
(秋田大 鉱山)
資料名：
電子情報通信学会論文誌 D-1
(IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.1 (Japanese Edition))
巻： J81-D-1 号： 6 ページ： 851-860 発行年： 1998年06月
JST資料番号： S0757B ISSN： 0915-1915 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 日本 (JPN) 言語： 英語 (EN)
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