文献
J-GLOBAL ID:200902168340421884
整理番号:93A0653715
p型CdTe単結晶およびイオンビームドープ薄膜の輸送測定
Trnaport measurements in p-type CdTe single crystals and ion-beam doped thin films.
著者 (5件):
MOESSLEIN J
(Stanford Univ., California)
,
LOPEZ-OTERO A
(Stanford Univ., California)
,
FAHRENBRUCH A L
(Stanford Univ., California)
,
KIM D
(Stanford Univ., California)
,
BUBE R H
(Stanford Univ., California)
資料名:
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻:
73
号:
12
ページ:
8359-8363
発行年:
1993年06月15日
JST資料番号:
C0266A
ISSN:
0021-8979
CODEN:
JAPIAU
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)