文献
J-GLOBAL ID:200902168407603214
整理番号:94A0022712
a-Si:H/a-SixC1-x:H多層膜での界面特性の定光電流法による評価
Characterization of interface properties in a-Si:H/a-SixC1-x:H multilayers by the constant photocurrent method.
著者 (4件):
WANG F
(Technical Univ. Munich, Garching, DEU)
,
FISCHER T
(Technical Univ. Munich, Garching, DEU)
,
MUSCHIK T
(Technical Univ. Munich, Garching, DEU)
,
SCHWARZ R
(Technical Univ. Munich, Garching, DEU)
資料名:
Philosophical Magazine. B. Physics of Condensed Matter: Statistical Mechanics, Electronic, Optical and Magnetic Properties
(Philosophical Magazine. B. Physics of Condensed Matter: Statistical Mechanics, Electronic, Optical and Magnetic Properties)
巻:
68
号:
5
ページ:
737-751
発行年:
1993年11月
JST資料番号:
H0004B
ISSN:
1364-2812
CODEN:
PMABDJ
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)