文献
J-GLOBAL ID:200902168756205820
整理番号:94A0113611
HRTEM investigation of microdefects in FZ-silicon crystal grown at high rate.
著者 (4件):
SOROKIN L M
(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)
,
HUTCHISON J L
(Univ. Oxford, Oxford, GBR)
,
PONOMORIOVA N B
(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)
,
FALKEVICH E S
(Ioffe Physical-Technical Inst., Russian Academy of Sciences, St. Petersburg, SUN)
資料名:
Institute of Physics Conference Series
(Institute of Physics Conference Series)
号:
134
ページ:
107-110
発行年:
1993年
JST資料番号:
E0403B
ISSN:
0305-2346
CODEN:
IPHSAC
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)