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文献
J-GLOBAL ID：200902168842983800
整理番号：96A0310909
MEH-PPV発光ダイオードの劣化と破損
Degradation and failure of MEH-PPV light-emitting diodes.
SCOTT J C
(IBM Almaden Res. Center, California)
,
KAUFMAN J H
(IBM Almaden Res. Center, California)
,
BROCK P J
(IBM Almaden Res. Center, California)
,
DIPIETRO R
(IBM Almaden Res. Center, California)
,
SALEM J
(IBM Almaden Res. Center, California)
,
GOITIA J A
(IBM Almaden Res. Center, California)
資料名：
Journal of Applied Physics
(Journal of Applied Physics)
巻： 79 号： 5 ページ： 2745-2751 発行年： 1996年03月01日
JST資料番号： C0266A ISSN： 0021-8979 CODEN： JAPIAU 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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