文献
J-GLOBAL ID:200902169080836747
整理番号:93A0395580
Si1-xGex/Si歪量子井戸における二次元正孔のサイクロトロン共鳴研究
Cyclotron resonance studies of two-dimensional holes in strained Si1-xGex/Si quantum wells.
著者 (5件):
CHENG J-P
(IBM Research Division, New York)
,
KESAN V P
(IBM Research Division, New York)
,
GRUTZMACHER D A
(IBM Research Division, New York)
,
SEDGWICK T O
(IBM Research Division, New York)
,
OTT J A
(IBM Research Division, New York)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
62
号:
13
ページ:
1522-1524
発行年:
1993年03月29日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)