文献
J-GLOBAL ID:200902169201829379
整理番号:93A0870880
エッジ規定フィルム給送成長Siにおける励起子トラップ及び格子間原子
Traps for excitons and interstitial atoms in edge-defined film-fed growth silicon.
著者 (4件):
DAVIES G
(King’s Coll. London, London, GBR)
,
PARK S-C
(King’s Coll. London, London, GBR)
,
HIGGS V
(King’s Coll. London, London, GBR)
,
SAWYER W D
(Mobil Solar Energy Corp., Massachusetts)
資料名:
Applied Physics Letters
(Applied Physics Letters)
巻:
63
号:
13
ページ:
1783-1785
発行年:
1993年09月27日
JST資料番号:
H0613A
ISSN:
0003-6951
CODEN:
APPLAB
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)