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文献
J-GLOBAL ID:200902169327491144   整理番号:97A0555870

微細加工した薄膜の機械的性質の測定

Measurements of mechanical properties of microfabricated thin films.
著者 (6件):
OGAWA H
(AIST, MITI, Ibaraki, JPN)
SUZUKI K
(Shonan Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
KANEKO S
(Olympus Optical Co., Ltd., Tokyo, JPN)
NAKANO Y
(Shonan Inst. Technol., Kanagawa, JPN)
ISHIKAWA Y
(AIST, MITI, Ibaraki, JPN)
KITAHARA T
(AIST, MITI, Ibaraki, JPN)

資料名:
Technical Digest. IEEE Micro Electro Mechanical Systems  (Technical Digest. IEEE Micro Electro Mechanical Systems)

巻: 10th  ページ: 430-435  発行年: 1997年 
JST資料番号: W0377A  ISSN: 1084-6999  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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