文献
J-GLOBAL ID:200902169554936837
整理番号:97A0437052
白金無電解析出の第1段階に対するシリコンドーピング効果の原子間力顕微鏡研究
Atomic Force Microscopy Study of the Silicon Doping Influence on the First Stages of Platinum Electroless Deposition.
著者 (5件):
GOROSTIZA P
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
DIAZ R
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
SERVAT J
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
SANZ F
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
,
MORANTE J R
(Univ. Barcelona, Barcelona, ESP)
資料名:
Journal of the Electrochemical Society
(Journal of the Electrochemical Society)
巻:
144
号:
3
ページ:
909-914
発行年:
1997年03月
JST資料番号:
C0285A
ISSN:
1945-7111
CODEN:
JESOAN
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)