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文献
J-GLOBAL ID：200902169830282870
整理番号：02A0734191
二次イオン質量分析とX線光電子分光により研究したポリ(p-フェニレンビニレン)及びフラーレン誘導体のAl,LiF及びAl/LiFとの界面 AlF3の生成を否定
The interfaces of poly(p-phenylene vinylene) and fullerene derivatives with Al, LiF, and Al/LiF studied by secondary ion mass spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy: Formation of AlF3 disproved.
VAN GENNIP W J H
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
,
VAN DUREN J K J
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
,
THUENE P C
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
,
JANSSEN R A J
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
,
NIEMANTSVERDRIET J W
(Eindhoven Univ. Technol., Eindhoven, NLD)
資料名：
Journal of Chemical Physics
(Journal of Chemical Physics)
巻： 117 号： 10 ページ： 5031-5035 発行年： 2002年09月08日
JST資料番号： C0275A ISSN： 0021-9606 CODEN： JCPSA6 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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