文献
J-GLOBAL ID:200902170737615736
整理番号:93A0547061
二次イオン質量分析用の負金属イオン源
Negative metal-ion source for secondary-ion mass spectrometry.
著者 (3件):
YURIMOTO H
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
,
MORI Y
(National Lab. High Energy Physics(KEK), Ibaraki, JPN)
,
YAMAMOTO H
(Univ. Tsukuba, Ibaraki, JPN)
資料名:
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻:
64
号:
5
ページ:
1146-1149
発行年:
1993年05月
JST資料番号:
D0517A
ISSN:
0034-6748
CODEN:
RSINAK
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)