前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:200902171099209136   整理番号:02A0566919

フリップチップの信頼性 鉛フリー(Sn/Ag/cu)はんだと63Sn/Pb共晶はんだの特性比較評価

Flip-Chip Reliability: Comparative Characterization of Lead Free(Sn/Ag/Cu) and 63Sn/Pb Eutectic Solder.
著者 (9件):
BALKAN H
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
PATTERSON D
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
BURGESS G
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
CARLSON C
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
ELENIUS P
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
JOHNSON M
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
ROONEY B
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
SANCHEZ J
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
WOOD J
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)

資料名:
Proceedings. Electronic Components & Technology Conference  (Proceedings. Electronic Components & Technology Conference)

巻: 52nd  ページ: 1263-1269  発行年: 2002年 
JST資料番号: H0393A  ISSN: 0569-5503  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。