文献
J-GLOBAL ID:200902171099209136
整理番号:02A0566919
フリップチップの信頼性 鉛フリー(Sn/Ag/cu)はんだと63Sn/Pb共晶はんだの特性比較評価
Flip-Chip Reliability: Comparative Characterization of Lead Free(Sn/Ag/Cu) and 63Sn/Pb Eutectic Solder.
著者 (9件):
BALKAN H
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
PATTERSON D
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
BURGESS G
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
CARLSON C
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
ELENIUS P
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
JOHNSON M
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
ROONEY B
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
SANCHEZ J
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
,
WOOD J
(Kulicke & Soffa, AZ, USA)
資料名:
Proceedings. Electronic Components & Technology Conference
(Proceedings. Electronic Components & Technology Conference)
巻:
52nd
ページ:
1263-1269
発行年:
2002年
JST資料番号:
H0393A
ISSN:
0569-5503
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)