文献
J-GLOBAL ID:200902171171483167
整理番号:94A0080018
Remeasurement of the profile of the characteristic Cu Kα emission line with high precision and accuracy. Erratum.
著者 (4件):
HAERTWIG J
(Friedrich-Schiller-Univ. Jena, Jena, DEU)
,
HOELZER G
(Friedrich-Schiller-Univ. Jena, Jena, DEU)
,
WOLF J
(Friedrich-Schiller-Univ. Jena, Jena, DEU)
,
FOERSTER E
(Friedrich-Schiller-Univ. Jena, Jena, DEU)
資料名:
Journal of Applied Crystallography
(Journal of Applied Crystallography)
巻:
26
号:
6
ページ:
845
発行年:
1993年12月01日
JST資料番号:
D0631A
ISSN:
0021-8898
CODEN:
JACGAR
資料種別:
逐次刊行物 (A)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)