文献
J-GLOBAL ID:200902171219300574
整理番号:94A0002013
Microelectronic component testing using circuit modeling.
著者 (3件):
BREAUX P J
(Southwest Research Inst., Texas)
,
CASEY P J
(Southwest Research Inst., Texas)
,
ALEXANDER J F
(Southwest Research Inst., Texas)
資料名:
IEEE AUTOTESTCON
(IEEE AUTOTESTCON)
巻:
1993
ページ:
521-528
発行年:
1993年
JST資料番号:
D0707A
ISSN:
1088-7725
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)